멘토, 지멘스 비즈니스, 자율주행 차량IC 테스트 솔루션
‘테센트  커넥트(Tessent Connect)’ 및 ‘테센트 세이프티(Tessent Safety) 에코시스템’ 발표
 
•  멘토의 테센트 커넥트(Tessent Connect), 설계 자동화로 IC 테스트 구현 비용 절감하고 신제품 출시 앞당겨
•  Tessent Safety 에코시스템, Arm사의 기능안전성 파트너십 프로그램의 일환으로 포괄적인 자동차 IP 포트폴리오 활용
•  Tessent LBIST-OST 솔루션, 기존의 로직 BIST 기술에 비해 시스템 내 테스트 시간을 최대 10배까지 단축시켜
 


전자 설계 자동화(EDA) 소프트웨어 분야의 선도업체인 멘토, 지멘스 비즈니스 (www.mentorkr.com 대표 김준환)는 오늘, 수많은 주요 파트너들과의 공고한 파트너십을 통해 오토모티브 IC 시스템에 적용되는 모든 IC 테스트의 결함을 측정하고 진단하는 ‘테센트 세이프티(Tessent™ Safety)’ 에코시스템과 설계 자동화로 IC 테스트 구현 비용 절감할 수 있는 ‘테센트 커넥트(Tessent Connect)’를 발표했다.
 
‘테센트 커넥트(Tessent Connect)’, 설계 자동화로 IC 테스트 구현 비용 절감하고 신제품 출시 앞당겨
 
멘토, 지멘스 비즈니스는 다양한 설계 소프트웨어와 유연하게 결합시켜 IC 테스트에 소요되는 시간 및 비용을 절감할 수 있도록 지원하는 ‘테센트 커넥트(Tessent Connect)’를 발표했다.
 
테센트 커넥트(Tessent Connect)은 DFT(테스트용설계) 자동화 방법론에 의해 실현되는 의도 지향형의 계층적 테스트 솔루션으로서, IC 설계 팀이 제조 테스트 품질 목표를 기존의 DFT 방식보다 빠르면서도 보다 적은 리소스를 할당하면서도 충분히 달성할 수 있도록 돕는다. 멘토는 테센트 커넥트(Tessent Connect) 출시의 일환으로 ‘테센트 커넥트 퀵스타트(Tessent Connect Quickstart)’도 함께 발표했는데, 테센트 커넥트 퀵스타트는 멘토의 애플리케이션 및 컨설팅 서비스 엔지니어들의 상세한 흐름 평가 서비스를 제공한다.
 
오늘날의 첨단 IC 디자인은 임베디드 압축, 내장 자체 테스트(BIST) 및 IEEE 1687 IJTAG 네트워크와 같은 전용 온칩 인프라를 통합하여 제조 및 시스템 내 테스트를 위한 매우 높은 결함 커버리지를 달성할 수 있다. IC 디자인의 규모가 커지고 통합되는 온칩 IP가 더 많아짐에 따라, 전통적인 DFT 프로세스를 보다 작고 관리하기 쉬운 요소들로 나누는 계층적 DFT 접근방식을 채택하는 엔지니어들이 점점 더 늘어나고 있다. 하지만 계층적 구성 요소와 기술을 사용하기 위해 기존의 흐름과 자동화를 개보수(retrofitting)하는 작업은 시간과 비용이 많이 드는 일련의 비효율성을 야기하는 경우가 많다.
 
처음부터 계층적 DFT를 지원하도록 설계된 멘토의 Tessent Connect 자동화 접근방법은 이러한 설계의 비효율성을 없앨 수 있도록 지원한다. Tessent Connect를 통해 IC 디자이너는 단계별 지침보다는 의도하는 결과를 기술하는 보다 높은 추상화 수준을 이용해 Tessent 소프트웨어 설계 툴과 상호작용하게 된다. 이러한 추상화 기반 접근방법의 이점으로는 서로 다른 DFT 팀들 간의 원활한 협업, IC 구성요소의 플러그 앤 플레이 방식 재사용, 턴어라운드 시간의 대폭 단축, 그리고 수많은 시간 소모적인 설정, 연결성 및 패턴 생성 작업의 자동화를 들 수 있다.
 
eSilicon사, 테센트 커넥트(Tessent Connect)를 이용해 타임투마켓 앞당겨: Tessent Connect의 얼리 어답터인 eSilicon사는 FinFET ASIC, 특정 시장용 IP 플랫폼 및 첨단 2.5D 패키징 솔루션의 주요 공급업체이다. eSilicon사는 최근 Tessent Connect의 첨단 자동화 기술을 활용하여 IC DFT 구현 비용을 절감하면서도 고도로 정교한 차세대 ASIC에 대한 시스템 수준의 DFT 테스트 및 디버깅 기능을 실현할 수 있었다.
 
eSilicon사의 DFT 서비스 부문 디렉터인 조셉 레이닉(Joseph Reynick)은 “eSilicon사는 테센트 커넥트(Tessent Connect)를 이용함으로써 공격적인 생산 일정에 맞추고 머신 러닝을 위한 neuASIC 7nm 플랫폼 기반의 제품과 같이 업계를 선도하는 IC를 구현하는 데 도움을 받고 있다”라고 말하며, “설계의 복잡성이 계속 증가함에 따라, 단지 고품질의 IC 제조 테스트에만 집중되던 우리 시스템/OEM 고객들의 요구는 효과적인 시스템 내 테스트와 기능 디버깅 기능으로까지 확장되고 있다. 오늘날의 복잡한 2.5D/3D 디바이스의 경우에는 우리의 칩이 DFT 및 IP 테스트를 비롯해 고객의 시스템에서 완전히 작동하기 전에는 대량 출하하지 않는다. Tessent DFT 포트폴리오와 Tessent Connect 자동화를 통해 달성한 효율성 없이는 이러한 문제를 해결하기가 매우 어려울 것이다”라고 밝혔다.
 
새로운 테센트 커넥트 퀵스타트(Tessent Connect Quickstart)로 비용 및 시간 더욱 절감해

멘토는 테센트 커넥트(Tessent Connect) 출시와 함께 새로운 테센트 커넥트 퀵스타트(Tessent Connect Quickstart) 프로그램은 맞춤화된 통찰력과 서비스를 위한 전문지식을 제공한다. 이는 IC 설계 팀이 테센트 커넥트(Tessent Connect)를 사용할 때 DFT 프로세스를 완전히 최적화 및 자동화할 수 있도록 지원한다.
 
멘토, 지멘스 비즈니스의 테센트(Tessent) 제품군 부문 제너럴 매니저인 브래디 벤웨어(Brady Benware) 부사장은 “우리의 고객들은 설계 규모가 커지고 품질 요건이 더욱 엄격해짐에 따라 테스트 구현 비용을 절감할 수 있는 길을 끊임없이 모색하고 있다”고 말하며, “우리의 고객들은 Tessent Connect와 이에 상응하는 Quickstart 프로그램을 통해 DFT 사인오프를 가속화 및 자동화 할 수 있게 되었다”라고 밠혔다.
 
멘토의 테센트(Tessent) 제품군에 대한 자세한 내용은 https://www.mentor.com/products/silicon-yield/tessent/에서 확인할 수 있다.


‘테센트 세이프티(Tessent™ Safety)’, 오토모티브 IC 시스템에 적용되는 모든 테스트의 결함 커버리지 측정하는 테스트 및 진단

멘토가 새롭게 발표한 ‘테센트 세이프티(Tessent™ Safety)’ 에코시스템은 멘토의 자동차 반도체 안전 표준인 ISO 26262 적격성을 유지해 주는 동급 최상 자동차 IC 테스트 솔루션의 종합 포트폴리오로서 업계 유수의 파트너들과의 협력 및 연결을 통해 IC 설계 팀이 갈수록 더 엄격해지고 있는 전 세계 자동차 업계의 기능 안전 요건에 부응할 수 있도록 지원한다.
 
테센트 세이프티(Tessent™ Safety) 에코시스템은 독립적인, 반도체 및 단일 소스 모델 기반 경쟁 프로그램들에 대한 강력한 대안을 제공한다. IC 테스트 기능 안전성 보장에 대한 멘토의 개방형 에코시스템 접근방법을 통해 칩 제조업체는 멘토의 업계를 선도하는 IC 테스트 기술을 다른 동급 최강의 솔루션들과 결합하여 보다 완전하며 고성능인 최종 솔루션을 실현할 수 있다.
 
멘토, 지멘스 비즈니스의 테센트(Tessent) 제품군 부문 제너럴 매니저인 브래디 벤웨어(Brady Benware) 부사장은 “빠른 시스템 IC 테스트 성능은 결함이 검출된 순간으로부터 온칩 안전 메커니즘이 관여하기까지의 시간을 줄이는데 필수적”이라고 말하며, “자동차 IC 디자이너들은 IC 테스트 성능을 가속화하기 위해 DFT 기술과 비 DFT 기술을 포함한 모든 온칩 안전 메커니즘을 긴밀하게 결합해야 할 필요성이 점점 더 커지고 있다. 이러한 접근방법은 멘토의 새로운 Tessent Safety 에코시스템에 있어서 기본적인 요소다”라고 밝혔다.
 
테센트 세이프티(Tessent™ Safety) 에코시스템은 멘토의 수많은 주요 파트너들과의 파트너십을 통해 빠르게 확장될 계획이며, 다음 사항들을 포함한다.
s   업계 최고인 멘토의 내장 자체 테스트(BIST) 기술에 포함된 새로운 Tessent LBIST는 자동차 IC의 디지털 로직 구성요소에 대한 시스템 내 모니터링 실행 시간을 극적으로 단축시키도록 설계된 LBIST-OST(Observation Scan Technology) 솔루션을 갖추고 있다. 고객이 엄격한 자동차 기능 안전성 요건에 부응할 수 있도록 설계된 새로운 Tessent LBIST-OST 솔루션은 기존의 로직 BIST 기술에 비해 시스템 내 테스트 시간을 최대 10 배까지 단축시켜 준다.
s   Tessent™ MemoryBIST의 포괄적인 자동화 흐름은 설계 규칙 검사(DRC), 테스트 계획, 통합 및 검증 기능을 RTL 또는 게이트 수준에서 제공한다. Tessent MemoryBIST는 계층구조적 아키텍처를 가지므로 최상위 수준은 물론 개별 코어에도 BIST 및 자체 복구 기능을 추가할 수 있다.
s   Tessent™ MissionMode 제품은 자동화와 온칩 IP의 조합을 제공하므로 자동차 전장 시스템 전반의 반도체 칩을 자동차 운전 중의 어떠한 시점에서도 테스트 및 진단할 수 있다.
s   아날로그, 혼성신호(AMS) 및 비 주사 방식 디지털 회로를 위한 Tessent™ DefectSim 트랜지스터 레벨 결함 시뮬레이터는 대용량, 고신뢰성의 IC에 이상적이며, 결함 범위와 허용오차를 측정한다.
s   멘토는 Arm® 기능 안전성 파트너십 프로그램(AFSPP: Arm® Functional Safety Partnership Program)에 참여하고 있다. Mentor Tessent® Safety 에코시스템은 실시간 실행 기능과 모든 Arm 프로세서가 갖는 최고 수준의 통합 기능 안전성 기능이 조합된 Cortex®-R52 프로세서와 같은 Arm Safety Ready IP 기능은 물론 소프트웨어 통합을 단순화하는 고급 하이퍼바이저 기술과, 안전 필수 코드를 보호하기 위한 강력한 분리 기능도 이용하고 있다.
s   멘토의 자동차 등급 자동 테스트 패턴 생성(ATPG) 기술은 기존의 테스트 패턴과 결함 모델에서 종종 놓치고 마는 트랜지스터 및 인터커넥트 수준의 결함을 검출해낸다.
s   멘토의 Austemper SafetyScope 및 KaleidoScope 제품에 대한 긴밀한 링크는 최첨단 안전 분석, 자동 수정 및 결함 시뮬레이션 기술을 추가하여 무작위적인 하드웨어 결함을 해결해준다. Austemper 기술은 디자이너의 RTL을 분석하여 결함과 취약성을 알아내며, 스마트 결함 주입 기능을 갖추고 있어 안전 메커니즘이 적용범위의 결함에 대해 계획된 방식으로 반응할 수 있도록 지원한다. 병렬화 및 분산된 작동 방법을 통해 독점적인 가속 알고리즘을 사용하므로 표준적인 게이트 레벨의 결함 주입 기법보다 훨씬 더 높은 속도를 달성한다.
 
테센트 세이프티(Tessent™ Safety) 에코시스템의 Mentor Tessent 제품들은 업계에서 가장 폭 넓고 포괄적인 ISO26262 적격성 평가 프로그램 중 하나인 Mentor Safe 프로그램의 일부이다.  Mentor Safe 프로그램에 대한 자세한 내용은 https://www.mentor.com/mentor-automotive/functional-safety 에서 확인할 수 있다. 자동차 애플리케이션을 위한 멘토의Tessent 솔루션에 대한 자세한 내용은 https://www.mentor.com/products/silicon-yield/automotive 에서 확인할 수 있다.