텔레다인르크로이, PCI Express 6.0 테스트 솔루션
PAM4 멀티 레벨 신호를 사용하는 64 GT/s 데이터 전송 속도 측정
2023-01-18 온라인기사  / 윤범진 기자_bjyun@autoelectronics.co.kr

텔레다인르크로이(Teledyne LeCroy, 지사장 이운재)는 18일 완전 자동화된 PCIE6 TX-RX 컴플라이언스 테스트 소프트웨어 QPHY-PCIE6-TX-RX와 함께 PAMx 신호와 PCIE Gen 6 신호 디버깅 및 특성을 파악할 때 사용할 수 있는 SDAIII-PCIE6와 SDAIII-PAMx 솔루션을 발표했다.

인공지능과 머신러닝, 고성능 컴퓨팅(HPC)을 포함한 새로운 기술의 발전으로 인해 대용량 데이터를 빠르게 처리할 수 있는 솔루션에 대한 수요가 급증하고 있다. 이러한 수요를 지원하기 위해 차세대 PCIe® 6.0에서는 64 GT/s 전송 속도를 지원할 수 있는 PAM4(멀티 레벨 신호)를 사용하여 빠른 데이터 접근에 대한 요구를 충족시키는 데 도움이 되지만, 새로운 멀티 레벨 신호 접근 방식은 시스템 개발자가 테스트를 수행할 때 여러 가지로 복잡한 과정을 거쳐야 하는 부담감을 준다.

텔레다인르크로이의 새로운 자동화 테스트 소프트웨어 QPHY-PCIE6-TX-RX, SDAIII-PCIE6와 SDAIII-PAMx는 제품 특성 파악과 디버깅을 수행하는 소프트웨어로, 텔레다인르크로이 LabMaster 10 Zi-A 오실로스코프에서  SDAIII-CompleteLinQ 시리얼 데이터 분석 소프트웨어와 함께 동작하여, PCIe 개발자들이 복잡한 PCIe 6.0 디바이스를 테스트하고 디버깅할 때 필요한 분석 툴을 제공한다.
 


주요 기능
  • 멀티 레벨에서 발생하는 트랜지션 그룹별로 지터를 계산하고 표시한다
  • 현재 SigTest에서 사용하는 AC Fit 방식을 이용한 Tx Equalization Preset 테스트를 진행하고 결과를 제공한다
  • 텔레다인르크로이가 제공하는 트랜스미터 이퀄라이제이션 툴을 이용하여 Preset 커서 값을 사용자가 직접 설정 또는 변경하여 파형을 관측하고 측정할 수 있다
  • SNDR(Signal-to-Noise-and-Distortion-Ratio)는 완성도 높은 오실로스코프 노이즈 보정과 강력한 신호 분석 파형 디스플레이 방식으로 및 신호 분석 결과를 파형으로 표시한다



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